任意波形發(fā)生器有上百種應(yīng)用方式，但是在電子測試測量領(lǐng)域，其應(yīng)用范圍基本可以可以分為三種：檢驗(yàn)、檢定以及*限/余量測試。在產(chǎn)品的調(diào)試階段，工程師需要測試產(chǎn)品的各項(xiàng)參數(shù)，以檢驗(yàn)產(chǎn)品是否滿足相關(guān)的出廠標(biāo)準(zhǔn)，在這個過程中，任意波形發(fā)生器需要發(fā)出標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的信號作為待測網(wǎng)絡(luò)的激勵源，通過測量并記錄被測網(wǎng)絡(luò)的響應(yīng)，然后將記錄的結(jié)果與標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的指標(biāo)進(jìn)行對照并且得出檢驗(yàn)的結(jié)論。另外，新開發(fā)的工控模塊，數(shù)據(jù)調(diào)理模塊等都需要使用任意波形發(fā)生器通過窮盡測試來確定其線性度和單調(diào)性等指標(biāo)。在很多場合中，任意波形發(fā)生器需要在其提供的信號中增加已知的，數(shù)量和類型可重復(fù)的失真或損傷，通過控制失真或損傷相關(guān)的參數(shù)可以對被測件進(jìn)行*限/余量測試。

    一、函數(shù)功能，仿真基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室設(shè)計人員的環(huán)境

　　函數(shù)信號源是使用zui廣的通用信號源，它能提供正弦波、鋸齒波、方波、脈沖串等波形，有的還同時具有調(diào)制和掃描能力，眾所周知，在我們的基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)中（如大學(xué)電子實(shí)驗(yàn)室、科研機(jī)構(gòu)研究實(shí)驗(yàn)室、工廠開發(fā)實(shí)驗(yàn)室等），我們設(shè)計了一種電路，需要驗(yàn)證其可靠性與穩(wěn)定性，就需要給它施加理想中的波形以辨別真?zhèn)?。如我們可使用信號源的DC補(bǔ)償功能對固態(tài)電路控制DC偏壓電平；我們可對一個懷疑有故障的數(shù)字電路，利用信號源的方波輸出作為數(shù)字電路的時鐘，同時使用方波加DC補(bǔ)償產(chǎn)生有效的邏輯電平模擬輸出，觀察該電路的運(yùn)行狀況，而證實(shí)故障缺陷的地方?？傊萌我獠ㄐ伟l(fā)生器這方面的基礎(chǔ)功能，能仿真您基礎(chǔ)實(shí)驗(yàn)室所必須的信號。

文來源網(wǎng)絡(luò)，僅供分享交流，不作商業(yè)用途，版權(quán)歸原作者和原作者出處。若有侵權(quán)，請聯(lián)系刪除。